Ein Großteil der aktiven Bauteile mit drei Anschlüssen kann mit einem einfachen Ohmmeter getestet werden. Falls jedoch eine große Anzahl dieser Komponenten geprüft werden soll, wird dieses Vorgehen schnell zu zeitraubend. Das führte zu der Überlegung, ein Gerät zum einfachen und schnellen Testen dieser Bauteile aufzubauen.
Das hier vorgestellte Messgerät erlaubt es, bipolare NPN- und PNP-Transistoren zu prüfen, ebenso wie FETs oder MOSFETs (n-/p-Kanal), Unijunctiontransistoren (UJTs), Triacs und Thyristoren. Die Tests sind für alle diese Bauteile nicht destruktiv, also zerstörungsfrei.