Keysight lädt Sie herzlich zu ihrem kostenlosen Seminar „RF Device Characterization“ ein. Ein technisches Seminar, in dem Keysight auf folgende Themen rund um die Charakterisierung von Verstärkern, Frequenzkonvertern, Oszillatoren und weiteren Tests aktiver Komponenten eingeht:

• Durchführung von Rauschzahlmessungen
• Analyse von Modulationsverzerrungen
• Optimierung von EVM-Messungen
• Methoden zur Phasenrauschmessung

Nutzen Sie die Gelegenheit, Keysight zu treffen, und lernen Sie neue Messtechnikanwendungen kennen. Die technischen Experten von Keysight stehen Ihnen an diesem Tag für weitere Diskussionsthemen gerne zur Verfügung.

Werfen Sie einen Blick auf die detaillierte Agenda auf der Anmeldeseite und melden Sie sich jetzt an, um Ihren Platz zu sichern. Für Mittagessen und Erfrischung ist gesorgt.

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