Schnellere Markteinführung und geringe Kosten im NewSpace-Markt
11. Dezember 2017
über
über
Microchip kündigt einen neuen Mikrocontroller (MCU) an, der vorgeschriebene Strahlungstoleranz mit der kostengünstigen Entwicklung auf Basis von Standardbauelementen (COTS; Commercial-Off-The-Shelf) kombiniert. Der ATmegaS64M1 erfüllt die Anforderungen von NewSpace- und anderen kritischen Anwendungen in der Luft- und Raumfahrt, die eine schnellere Entwicklung und geringere Kosten erfordern.
Die Entwicklung strahlungsfester Systeme für Raumfahrtanwendungen geht üblicherweise mit langen Vorlaufzeiten und hohen Kosten einher, um höchste Zuverlässigkeit für mehrjährige Missionen in einer rauen Umgebung zu erzielen.
Der ATmegaS64M1 ist die zweite 8-Bit megaAVR® MCU von Microchip, die einen COTS-zu-strahlungstoleranten Entwicklungsansatz verfolgt. Dieser basiert auf einem bewährten Automotive-qualifizierten Baustein wie dem ATmega64M1 und ermöglicht anschlusskompatible Versionen in hochzuverlässigen Kunststoff- und raumfahrttauglichen Keramikgehäusen. Die Bausteine sind so ausgelegt, dass sie die folgenden Anforderungen hinsichtlich der Strahlungstoleranz erfüllen:
Die Entwicklung strahlungsfester Systeme für Raumfahrtanwendungen geht üblicherweise mit langen Vorlaufzeiten und hohen Kosten einher, um höchste Zuverlässigkeit für mehrjährige Missionen in einer rauen Umgebung zu erzielen.
Der ATmegaS64M1 ist die zweite 8-Bit megaAVR® MCU von Microchip, die einen COTS-zu-strahlungstoleranten Entwicklungsansatz verfolgt. Dieser basiert auf einem bewährten Automotive-qualifizierten Baustein wie dem ATmega64M1 und ermöglicht anschlusskompatible Versionen in hochzuverlässigen Kunststoff- und raumfahrttauglichen Keramikgehäusen. Die Bausteine sind so ausgelegt, dass sie die folgenden Anforderungen hinsichtlich der Strahlungstoleranz erfüllen:
- Vollständig immun gegen Single-Event Latchup (SEL) bis 62 MeV.cm²/mg
- Keine Single-Event Functional Interrupts (SEFI), was die Speicherintegrität sichert
- Akkumulierte Total Ionizing Dose (TID) zwischen 20 bis 50 Krad(Si)
- Single-Event-Upset-(SEU-)Charakterisierung für alle Funktionsblöcke
Mehr anzeigen
Weniger anzeigen
Diskussion (0 Kommentare)