Der Fnirsi LCR-P1 Transistor Tester, ein überraschendes Gerät (Testbericht)

Fnirsi überrascht mich immer wieder. Sie bringen nicht nur schnell Test- und Messwerkzeuge auf den Markt, sondern sind auch im Designbereich kreativ. Der Fnirsi LCR-P1 Transistor Tester ist das erste Fnirsi-Werkzeug, das 2025 auf meinem Schreibtisch gelandet ist. Er sieht aus wie ein Gadget aus einem Science-Fiction-Film. Es scheint, als hätte der Produktdesigner von Fnirsi völlige Freiheit und nutzt sie voll aus. Neben seinem Aussehen hat der LCR-P1 noch einige Überraschungen zu bieten. Lassen Sie uns einen Blick darauf werfen.
 

 

Infrarot-Decoder?

Der Fnirsi LCR-P1 kostet ungefähr 35 €. Er ist etwas größer als eine Kreditkarte und etwa 15 mm dick. Oben rechts hat er ein kleines quadratisches Farbdisplay und daneben einen Schiebeschalter. Das ist die erste Überraschung, denn mit diesem Schalter kannst du zwischen IR-Dekodierung und Transistortester wechseln. Im IR-Dekodiermodus zeigt der Tester den Code an, den er empfängt, wenn du eine Fernbedienung auf das Gerät richtest und eine Taste drückst. Allerdings funktioniert das nicht mit jeder Fernbedienung; RC5 wird nicht erkannt, aber NEC-Codes werden dekodiert.

 

Der LCR-P1 verfügt über Adapter für THT und SMT

Unter dem Display gibt es einen ZIF 2 × 7 Teststecker. Die Beschriftung der Kontakte ist zwar etwas unerwartet, aber sehr praktisch und flexibel. Es gibt noch eine weitere Überraschung: Sie können den ZIF-Stecker abnehmen und durch den im Lieferumfang enthaltenen SMT-Adapter ersetzen. Zusätzlich wird der LCR-P1 mit drei kabelgebundenen Federhaken geliefert.  Diese können in den ZIF-Stecker gesteckt werden, um die Haken an die Pins eines großen Bauteils zu befestigen, das nicht in den ZIF-Stecker passt oder auf einer Platine verlötet ist.

 

Zener-Dioden-Tester  

In der Mitte der rechten Seite gibt es einen großen, runden Testknopf. Das ist auch der Ein/Aus-Schalter. Unter dem Testknopf befindet sich ein schwarzer Druckknopf mit der Aufschrift „Zener“ in dunklem Grau. Wenn man ihn drückt, leuchtet er rot und das Display zeigt „Spannungsregulierungsdiode“. Kann der LCR-P1 also auch Zener-Dioden testen? Eine weitere Überraschung! Und es funktioniert – ich habe einige Zener-Dioden bis zu 22 V getestet (da ich in meinem Bestand keine höheren gefunden habe), aber laut Handbuch kann der LCR-P1 bis zu 32 V messen.

Unter dem Zener-Druckknopf gibt es ein kleines, durchlöchertes Gebiet, das aussieht, als ob es einen Summer schützt. Aber Überraschung: Es ist für den Infrarotsensor gedacht. Der Summer ist tatsächlich auch dort versteckt, aber auf der anderen Seite des Boards.

Powerbank?

Wenn Sie sich die Rückseite des LCR-P1 ansehen, könnten Sie denken, dass es sich um eine 300-mAh Powerbank handelt, aber das ist nicht der Fall.  

 

 

Lassen Sie uns den Fnirsi LCR-P1 ausprobieren.  

Sobald Sie den Tester einschalten, sehen Sie die Meldung „Unbekannt/Kein Bauteil/Oder beschädigt“ mit einem großen Fragezeichen. Auch die Anschlüsse des ZIF-Sockets werden angezeigt. Setzen Sie einen Transistor ein und drücken Sie auf Testen. Nach etwa fünf Sekunden erscheinen die Ergebnisse. Diese zeigen den Typ des erkannten Geräts, ein Schaltplansymbol mit Pin-Nummern und einige Parameter, die vom erkannten Gerätetyp abhängen.

Für einen PNP/NPN-Transistor erhält man h_FE, V_BE und I_E. Bei einem JFET werden die Gate-Spannung V_G für zwei verschiedene Drainströme I_D sowie ein Wert für I_DSS angezeigt. Ein MOSFET wird mit Werten für den V_T, C_G, R_DS und V_F beschrieben. Laut Handbuch kann das LCR-P1 auch IGBTs testen, aber ich hatte leider keine zur Hand.

JFET-Test mit dem Fnirsi LCR-P1

Ich habe einen alten BF245C getestet, der richtig als „Feldeffekt-Röhre (N-J-EFT)“ erkannt wurde. (Firmware-Version 1.0.7. Im Handbuch wird auch ein MIOSTET-Transistor erwähnt. Vielleicht sollte Fnirsi einen besseren Übersetzer einstellen?) Die angezeigten Werte waren:

I_D = 3.60 mA, V_G = 2.48 V
I_D = 0 mA, V_G = 4.30 V
I_DSS = 1.57 mA
 

 

Diese Werte waren über mehrere Tests hinweg ziemlich konstant. Man würde für diesen Transistortyp einen negativen Wert für V_G erwarten, aber es steht V_G und nicht V_GS. Leider ist V_DS nicht spezifiziert, was den Vergleich mit dem Datenblatt schwierig macht. Daher habe ich ein Oszilloskop an Drain und Source angeschlossen, wie es der Tester vorgeschlagen hat, und eine maximale V_DS von etwa 4,5 Volt beobachtet. Die Werte im Datenblatt sind für 15 Volt angegeben. Beim Test des BF245C auf einem Breadboard fand ich eine Abschaltspannung von −4,4 Volt. Um einen Drainstrom von 3,6 mA bei einer Gate-Spannung von −2,48 V zu erreichen, musste ich V_DS auf 8 Volt erhöhen. Für ein V_G von −4,3 V, wie vom LCR-P1 gemessen, ergab sich ein Drainstrom von 4,5 µA. Vielleicht kann der Tester so niedrige Werte nicht messen?

JFET-Pinbelegungserkennung  

Die Pinbelegung des JFET wurde als G-D-S erkannt. Laut dem Datenblatt sollte es jedoch G-S-D sein. JFETs sind symmetrische Bauelemente, daher kann man dem Fnirsi LCR-P1 einen kleinen Fehler nachsehen. Es ist jedoch wichtig, das Datenblatt zu prüfen, um sicherzugehen.

MOSFET-Test

Ein IRL540N wurde als N-E-MOS-Feld-Effekt-Röhre mit der Pinbelegung G-D-S erkannt, was richtig ist. Die gemessenen Werte, die ich erhalten habe, waren:

V_T = 2.11 V
C_G = 2.10 nF
R_DS = 0.4 Ω
V_F = 613 mV
 

Hier ist V_F, die Vorwärts-Spannung der Body-Diode. Leider sind die Testbedingungen unbekannt, was die Deutung dieser Werte schwierig macht. Im Vergleich zum Datenblatt des IRL540N liegen V_T und R_DS eher im höheren Bereich.

BJT-Test

 

Bipolare Transistoren haben drei Werte, aber das Handbuch sagt mehr. Auch Germanium-Transistoren sind nützlich. Bei einem GFT43A fand ich einen PNP-Transistor mit einem h_FE von 10, einer V_BE von 239 mV und einem I_E von 119 µA. Hier sieht es so aus, als wäre I_E ein Leckstrom, aber beim Testen von bipolaren Siliziumtransistoren wie dem BC337 und BC557 bekam ich I_E-Werte von etwa 2 mA. Das ist ziemlich hoch für einen Leckstrom.

Bitte beachten Sie, dass es bei NPN-Transistoren etwas Besonderes gibt. Ein NPN-Transistor, der in den Positionen 1-2-3 eingesetzt wird, wird richtig erkannt. Bei den Positionen 2-3-1 oder 3-1-2 sind jedoch Emitter und Kollektor vertauscht. Bei PNP-Transistoren hingegen wird immer die richtige Belegung erkannt.

Darlington-Transistoren werden nicht unterstützt, aber einige Thyristoren (SCRs) schon, solange sie eine Durchlassspannung von weniger als 5 V und einen Gate-Auslösestrom von unter 6 mA haben. Triacs werden nicht unterstützt.

Dioden

Das LCR-P1 kann neben Transistoren, Thyristoren und Zener-Dioden auch Siliziumdioden, normale und Schottky-Dioden testen. LEDs werden ebenfalls unterstützt. Leider bleibt die Belegung einer Diode immer gleich, egal wie man sie im Tester einsteckt. Die Germanium-Dioden, die ich getestet habe (OA81), wurden als Widerstände erkannt, obwohl sie mit einem Multimeter richtig getestet wurden. Für Dioden zeigt das Gerät V_F, I_R und die Kapazität an. Es ist verwirrend, dass Dioden wie Transistoren über die nummerierten Buchsenanschlüsse getestet werden sollten und nicht über die 'K'- und 'A'-Anschlüsse, die nur für Zener-Dioden gedacht sind.

Das LCR-P1 unterstützt auch Kondensatoren

Das zeigt, dass auch Kondensatoren getestet werden können – und das stimmt, von 25 pF bis 100 mF. Bei einem Elektrolytkondensator von 10 µF bei 25 V erhielt ich Werte für Vloss (1 %), ESR (1,94 Ω) und Kapazität (11,4 µF). Interessanterweise wird eine Zenerdiode manchmal fälschlicherweise als Kondensator erkannt, wenn man versehentlich testet, ohne die Zener-Taste zu drücken.

 

Induktivitäten und Widerstände

Der LCR-P1 unterstützt Induktivitäten von 10 µH bis 1 mH. Er misst die Induktivität und den Serienwiderstand. Außerdem können auch einfache Widerstände getestet werden, aber das geht mit einem Multimeter schneller.

Batterien

Laut Anleitung kann der Fnirsi LCR-P1 Batterien bis zu 4,5 V testen, aber bei mir hat das nicht geklappt. Nach einigem Nachdenken zeigte der Tester entweder ein zufälliges Ergebnis wie bei einem JFET oder eine Batterie mit einer falschen Spannung an. Das ist aber kein großes Problem, denn das Testen von Batterien mit dem Gerät ist nicht wirklich praktisch. Schließlich ist es ein Transistortester und kein Multimeter.

Das Gerät schaltet sich automatisch nach einer Minute ab (oder nach längerem Drücken der Testtaste).

Schlussfolgerung

Der Fnirsi LCR-P1 ist ein kompakter Transistortester, der viele tolle Funktionen hat. Neben der Prüfung von Transistoren kann er auch normale Dioden, Zenerdioden, Thyristoren sowie Widerstände, Kondensatoren und Induktivitäten testen. Außerdem kann er Batterien prüfen, auch wenn das bei mir nicht ganz so gut geklappt hat. Am spannendsten ist jedoch, dass der LCR-P1 auch gängige Infrarot-Fernbedienungen testen kann.

Das Testen eines Bauteils ist ganz einfach, man muss nur einen Knopf drücken. Es dauert jedoch ein bisschen länger – ungefähr fünf Sekunden pro Test. Leider sind die Testbedingungen für die verschiedenen Parameter nicht klar, was das Verstehen der Ergebnisse schwieriger macht. Außerdem ist die erkannte Pinbelegung von NPN-Transistoren und Dioden nicht sehr zuverlässig (aber scheinbar konstant). Daher ist der LCR-P1 am besten geeignet, um Transistoren (oder andere unterstützte Bauteile) zu vergleichen oder zu sortieren und um defekte Teile zu finden.

Der LCR-P1 ist sehr energieeffizient!

Der Akku des Fnirsi LCR-P1 hat zwar nur eine kleine Kapazität von 300 mAh, hält aber überraschend lange mit einer Ladung durch. Es gibt keinen Ladeindikator, daher weiß ich nach all meinen Experimenten nicht, wie viel noch übrig ist. Ich musste ihn bisher jedoch nicht einmal aufladen.

Ein Software-Update, um einige komische englische Formulierungen zu verbessern, wäre toll, aber ich kann damit leben. Die Erkennung der Pinbelegung von NPN-Transistoren und Dioden sollte jedoch besser werden.